激光非接触测量，正确、快速、简单地测量各种形状结构、粗糙度的激光显微镜全新形状测量激光显微系统 VK-X 系列

从 50 mm 到 1 nm 的高精度测量

测量区域传统产品的 16 倍^*

*与本公司VK-X250产品的比较

实现了“大范围且高精度”的分辨率

由于激光的光点直径较粗糙度仪的触针微细很多，因此可更加准确地测量细微形状。

无需调整测量“AI-SCAN”

仅需单击，后续操作将自动完成

匹敌 SEM 的高分辨率 / 高倍率

在大气中最大 28800 倍的观察力

相较激光共焦点实现了12倍的测量速度 *ISO 25178-6

最快 5 秒

形状测量激光显微系统

VK-X 系列

可电话咨询 4008-215-686