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形状测量激光显微系统 VK-X1000的新功能

  • 从50 mm 到1 nm 的高精度测量

  • 测量区域 传统产品的16 倍

  • 测量时间 最快5 秒

激光显微系统的基本特征

  • 观察力
    1台即覆盖从
    光学显微镜到SEM的所有领域

  • 测量力
    以激光瞬间扫描形状

  • 分析力
    了解想要获知的表面“差异”

  • 详情请参阅产品目录。
  • 可电话咨询 4008-215-686
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