中国

大范围测量微小形状

从50 mm到1 nm的高精度测量

[全新] 形状测量激光显微系统 VK-X1000

形状测量激光显微系统 VK-X1000的新功能

[准确进行纳米级别测量] 通过超高精度线性标尺实现超高精度测量,可读取纳米位数高度差。

[测量区域传统产品的16倍] 实现了传统激光显微镜难以达到的大范围微小形状测量。

激光显微系统的基本性能

  • [观察力] 1台设备即涵盖了从光学显微镜乃至SEM领域的功能 / 35倍至最大28,800倍, 无需对焦, 可应对广泛样品 / 光学显微镜全幅对焦图像 / 砂纸(400×)16 bit激光彩色图像
  • [测量力] 通过激光瞬间扫描形状 / 不损伤目标物, 准确进行纳米位数的测量, 还能测量透明体和 形状复杂的目标物
  • [分析力] 了解想要获知的表面“差异” / 定量化微小形状, 多个样品的比较轻松简单, 粗糙度分析

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