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新产品速报
高精度 “瞬间 3D” 测量
针对最大 10 × 10 mm 的测量区域,可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理,不受材质/颜色、死角的影响,实现了微米级的高精度测量。
使目标物停在传感器头正下方。 (停止时间高达 0.12 秒)
照射光线,并获取 8 万个点的高度数据。
对于已获取的高度数据,测量各种尺寸。
测量完成仅需 0.13 秒
测量多点时,需要高精度且高速扫描目标物。 因此,往往会将时间浪费在移动载物台上,不易进行全数检测。 由于 WI-5000 系列是以面进行同时测量,因此可大幅缩短测量时间,实现全数检测。
为了用于离线检测,备有可固定传感器头的专用底座。 配备可削减检测工时的各种实用功能。 改善从简易测量到保存数据等情况的可操作性。
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