精度与自动化兼得全新形状测量激光显微系统 VK-X4000 系列

激光共聚焦
白光干涉
聚焦变化

多点
大型载物台

三重扫描方式纳米/微米/毫米一台即可完成测量

激光共聚焦

白光干涉

聚焦变化

可通过多点自动测量轻松地进行3D测量。

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