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世界创新性的 DATUM

DATUM(背景、基准面)设定时,可以准确检测工件。

DATUM

基于:
・距离
・受光模式

DATUM

只要在传送带上按一下[SET]按钮便可以轻松设定。

检测图

检测图

CMOS 接收到的光线图

CMOS 接收到的光线图

CMOS 接收到的光线图

在传送带(背景)上做DATUM设定,设定值会设置为略高或略低于传送带位置(没有工件时,受光波形会在设定范围内)。->输出“OFF”

检测示例 1

检测一般工件时

检测图

检测图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光位置发生改变->距离发生改变->判断为存在工件->输出“ON”

检测示例 2

有多重反射的工件时

检测图

检测图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光示意图

波形上出现2个波峰->受光波形发生改变->判断为存在工件->输出“ON”

检测示例 3

没有反射光的工件时

检测图

检测图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光示意图

CMOS 受光示意图

没有反射光->受光波形发生变化->判断为存在工件->输出“ON”