以往的颗粒及粒度分析使用激光散射式颗粒分析仪或显微镜。此外,近年来随着CMOS拍摄元件及镜头精度、照明技术、图像处理技术的进步,也有使用高性能数码显微系统的情况。
新型数码显微系统不仅具备高画质,还配备了利用图像二值化的颗粒抽取及定量化、测量条件再现等满足各种需求的丰富功能。
下面我们将为您介绍使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析课题解决案例。

利用图像处理的粒度分布与颗粒分析

利用图像处理的粒度分布与颗粒分析是什么

“图像二值化”是指将具有灰度级的图像转换为黑白图像的处理。设定任意的阈值,并与各像素值进行比较,当大于阈值时转换为黑,小于阈值时转换为白。另外,还可以指定进行二值化的范围。
进行图像二值化后,可进行从必要部分仅获取黑或白信息的处理,从而使颗粒分析更加容易且高速。

图像二值化的机理
图像像素值
图像像素值
以阈值“127”执行二值化的图像
以阈值“127”执行二值化的图像

使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析案例

传统激光绕射及散射法*无法观察实际颗粒。另外,利用显微镜进行观察时需要熟练度,也难以再现拍摄条件。而且,需要使用其他软件分析获取的数据。

利用4K数码显微系统“VHX系列”进行粒度分布及颗粒分析时,在观察实际颗粒的同时,可进行各种测量。而且,通过图像二值化进行自动面积测量、拍摄设定再现及校正时,无需检测人员的熟练度,简单操作即可完成。

激光绕射及散射法
是指利用激光照射进行粒度分布及颗粒分析。利用散射光强度与颗粒数量成正比的规律性以及颗粒大小与光散射绕射模式的相关性的测量分析法。

自动面积测量

能够简单进行指定范围内的目标物面积测量与计数。使用图像的亮度及颜色进行二值化,还可计算面积、最大直径、最小直径等参数,并剔除多余目标物或分离重合的目标物。另外,可使用过去测量的图像数据,在相同条件下进行分析。
并且,可将测量值以表格或柱状图形式输出,从而能够定量掌握粒度分布特征。

用4K数码显微系统“VHX系列”的图像二值化进行自动面积测量
观察画面
观察画面
基于图像二值化的颗粒分析与柱状图显示(400×)
基于图像二值化的颗粒分析与柱状图显示(400×)

拍摄设定再现与校正

利用显微镜观察时,难以再现上次的拍摄条件(照明、快门速度、白平衡等)以及进行二值化时的图像处理及校正等测量条件。

4K数码显微系统“VHX系列”则只需从相册选择已保存的图像,即可再现过去的拍摄设定。即使检测人员变化或时间流逝后,也能够以与上次相同的拍摄条件进行观察。

用4K数码显微系统“VHX系列”再现拍摄设定
仅需从相册选择图像,即可自动再现以前的拍摄条件。
仅需从相册选择图像,即可自动再现以前的拍摄条件。
再现前
再现前
再现后
再现后

而且,对于以往需要在正确位置对准焦点标尺才能进行的校正,如今凭借“一键图像校正”,只需设置专用标尺并单击即可完成。读取照明条件、快门速度、白平衡等镜头所需的校准值,通过XYZ轴电动控制,自动调整位置与焦点。

进一步升级的4K数码显微系统“VHX系列”自动缩放功能与校正功能
A. 高分辨率HR镜头 B. 电动镜头转换器
  • A. 高分辨率HR镜头
  • B. 电动镜头转换器
一键即可自动校正
一键即可自动校正

还配备了无需更换镜头就能完成20至6000倍倍率变更以实现无缝缩放的高分辨率HR镜头与电动镜头转换器等可减轻颗粒分析作业负担的丰富功能。同时,所有操作均为简单操作,不擅于使用设备的人员也能够迅速准确地完成观察与分析。

观察、拍摄、测量只需1台设备

使用高精细4K数码显微系统“VHX系列”,能够进行远超传统显微镜的高效化作业,实现消除人为误差的正确粒度分布及颗粒分析。
利用由先进光学技术、图像处理技术及自动化技术共同实现的高精细4K图像,仅需简单操作即可进行粒度分布及颗粒分析,从而能够迅速获得更精确的分析结果。
利用“报告功能”,可将拍摄、测量所得的数据导出为统一格式的简单报告,在企业内部服务器等平台上共享数据。不仅能满足工业标准、确保品质,还能在发生问题时查明原因,协助改良工序等。
“VHX系列”还配备了许多其他新功能,是粒度分布及颗粒分析的强力伙伴。如需了解详细内容,欢迎点击下列按钮,下载查阅产品目录或随时咨询。