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借助 KEYENCE配备的光量累计功能,类似粘附层等粗糙的表面,也可以实现稳定测量。
在拉伸制程等过程中,可以应用于上游至下游的各种场所。
在制程内测量基材厚
涂布后的湿膜厚度测量
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