通过使半导体激光照射到利用马达旋转的多棱镜，来扫描测量范围。
测量被目标物遮挡的激光的明暗时间差，由此求出外径等测量值。

激光扫描方式的原理图

通过使用绿色LED和远心镜头的光学系统，对目标物照射均匀的LED光。检测2D CMOS上获取的光的明暗边缘，测量尺寸和角度等。
有效活用不受照明影响的透过型特有的优点，实现高精度测量。