非接触测量光纤外径 稳定测量运行中的纤芯和母材，不受摆动影响

无法正确测量光纤外径时面临的3个问题

光纤的外径和包层径波动直接影响传输特性和成品率。传统方式在实际应用中各有其局限性。

外径和包层径波动直接影响特性和成品率

在拉丝和涂覆工序中，如果纤芯或包层的外径发生波动，会影响连接损耗、传输特性和涂覆厚度，导致产品不合格。如果在工序中无法检测到，就会在后续工序或最终产品中显现为不良，从而导致长距离产品的浪费和客户投诉。特别是在高速拉丝生产线上，哪怕是微小的外径波动也会导致长距离的不良品流出，严重影响成品率和成本。

激光扫描方式存在运行时的摆动误差

运行中的光纤必然会产生摆动和弯曲，但激光扫描方式的结构决定了遮光时间的变化很容易直接转化为误差。这就需要使用抑制摆动的夹具或限制速度，从而难以在高速拉丝生产线上进行全数管理。如果将摆动引起的波动误判为不良，就会将良品排除；如果漏检，不合格的纤芯就会流出到后续工序，从而损害成品率和可靠性。

透明体和接触式无法实现全检

透明光纤的边缘检测较为困难，接触式则需要停止运行，对于细纤芯，还会导致划伤或变形。以抽样检测为主的检查容易漏检纤芯位置偏差和局部变细，从而导致不良品流出。因此，需要一种无需停止运行、能以非接触方式对透明体进行全检的方法。如果纤芯位置偏差或局部变细流出到最终产品中，就会显现为连接损耗或通信质量下降，从而导致返工和客户投诉。

光纤工序与外径、纤芯位置的测量要点

在从母材到收线的各个工序中掌握外径和纤芯位置，尽早检测出波动和缺失。

1. 1 母材、预制棒 – 测量①。以非接触方式测量光纤母材的外径和椭圆度，管理原材料阶段的波动。
2. 2 拉丝 – 测量②。以16,000次/秒的采样速度连续测量运行中纤芯的外径。即使存在摆动或倾斜，也能通过高速曝光CMOS和倾斜补偿功能进行稳定测量。
3. 3 纤芯位置、涂覆 – 测量③。通过发射/接收位置测量CMOS，以二维方式掌握纤芯位置，并在涂覆后测量外径。
4. 4 全数监视/记录 – 测量④。监视外径和存在情况，检测缺失和局部变细。记录全长外径，用于质量管理。

光纤外径测量方式的比较

根据测量方式的不同，在运行时的抗摆动性、对纤芯的影响、纤芯位置测量、高速全检、恶劣环境适应性方面存在很大差异。

选择LS-9000系列的理由

LS-9000系列通过透射光的边缘检测，对运行中的光纤外径进行非接触测量，利用高速曝光CMOS和倾斜补偿功能抑制激光扫描方式的摆动误差，并以16,000次/秒的采样进行连续测量。通过发射/接收位置测量CMOS，以二维方式掌握纤芯位置，对透明体也通过两阶段边缘检测进行测量。还支持极细模式、IP67和空气吹扫，解决了接触式测量中对停止和划伤的担忧。

支持光纤外径测量的LS-9000系列

采用高亮度绿色LED透射光和3-CMOS的光学式尺寸测量仪。以非接触方式对运行中的光纤外径进行全数测量。

支持光纤外径测量 － LS-9000系列

超高速/高精度测微计

通过高亮度绿色LED的透射光和3-CMOS，以非接触方式对运行中的光纤外径进行边缘检测。凭借16,000次/秒的高速采样、高速曝光CMOS以及倾斜补偿功能，即使是存在摆动或倾斜的运行纤芯也能进行稳定测量。通过发射/接收位置测量CMOS，以二维方式掌握线材的位置，并使用双轴型传感头测量椭圆度。通过针对透明体的两阶段边缘检测，还可以测量透明光纤，极细模式可应对细纤芯和间隙。采用无扫描部的无驱动部结构，寿命长且免维护。凭借空气吹扫功能和IP67的耐环境设计，也可安装在拉丝和涂覆生产线的环境中。

下载目录

点击此处查看LS-9000系列的产品信息

获取LS-9000系列的详细资料

可免费下载汇总了规格、系统构成和导入案例的目录。

下载目录

关于光纤外径测量的咨询

光纤外径测量的应用案例

广泛应用于纤芯、母材、涂覆、包层等各种光纤的外径和位置测量。

关于光纤外径测量（LS-9000系列）的常见问题

相关产品