2D/3D 线激光测量仪 LJ-X8000 系列

以超高精度 测量各种工件

大视野、高精度机型上市
超高精细测量

  • 超高精度
  • 可支持各种材质
  • 设定只需 3 步

LJ-X8000 系列 - 2D/3D 线激光测量仪

3200point/profile,准确捕捉真实的形状;16KHZ,超高速采样;自动补正测量,不易受产品偏移影响;3个步骤轻松完成设定,兼顾高精度和易操作性。

通过低代码实现耗时的3D图像处理开发 - 源代码自动生成功能 -

3D图像处理开发支持软件LJ Developer使3D图像处理的二次开发工作变得极其容易。
过去仅限特定的开发人员可进行3D图像处理开发,如今只需具有2D图像处理知识,就可以轻松开发3D图像处理软件。

  • 提供各种专用库,包括高度和平面度测量工具、位置校正功能、异常数据去除功能、图像合成功能和3D图像绘制功能等。
  • 可通过专用UI​​直观地进行测量设置。
  • 使用自动源代码生成功能,可以非常轻松地集成到用户程序中。

更多内容

产品应用

  • 拼焊的形状检测

  • 端子的间距和高度差检测

  • 电缆的凹凸检测

  • 端子的高度检测

产品应用

产品特性

超高精度测量 为以往的 4 倍*

采用 3200 points/profile 超高精度测量,可以精确地绘制出目标物的形状。通过呈现“真实形状”,从而实现精确的尺寸测量和外观检测。

* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。

传统*

  • 粗略
  • 数值跳动
  • 容易受表面状态的影响

* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。

LJ-X8000

  • 细致入微
  • 精确
  • 各种表面状态都可稳定检测

能够实现超高精度的理由

如果仅单纯地提升CMOS 的像素数,单个像素变小,无法得到足够的受光量。结果会导致高度方向的精度下降、工件检测能力的下降。LJ-X8000 系列为了解决此问题,采用了下述新技术。

柱面物镜

采用特别设计的柱面物镜,照射平行光。抑制目标物表面的反射光扩散。

大口径受光镜头

除了特别的光学设计,还搭载以往设备3 倍* 测量面积的大口径受光镜头,大幅提高受光量。

* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。

高精度 CMOS 为以往的 4 倍*

搭载 3200 points/profile 的新开发高精度 CMOS。

* 与本公司LJ-V7000 系列产品的比较。

轮廓对齐功能

生成 3D 图像时,分别用 X・Z・θ 补偿 2D 轮廓的位置。消除振动、偏心、工件弯曲及起伏等影响,生成适于检测的图像。

无轮廓对齐

受搬运振动的影响,无法生成理想的 3D 图像。

有轮廓对齐

通过轮廓对齐,可生成理想的 3D 图像。可在线实现打痕、缺陷等稳定检测。

性能型号选项丰富,可应对各种应用和需求

LJ-X8000 系列可应对各种检测需求,提供合适的选型。协助生产现场实现质量提高、人工节约、工艺创新。

阵容丰富,拥有7 款不同测量范围的感测头。最大测量宽度720 mm,适用于各种场合。