要使用网站的所有可用功能,必须在浏览器中启用 JavaScript。
SI-F80R 系列
下载目录
采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。
SI-F80R 系列使用近红外 SLD,可穿过硅、砷化镓、碳化硅、磷化铟、非晶硅及其它半导体。
通过减小光点直径和光点内的表面相差,可最大限度的减少晶片表面图案的变化和测量警报的发生次数。
可解决传统晶片测量方法所存在的问题的测量装置。
以简单易懂的方式解释达到超高精度的测量原理。
下载
服务支持
<咨询热线>4007-367-367
返回顶部
基恩士 (中国) 有限公司 总部200120 上海市浦东新区世纪大道100号上海环球金融中心7楼 咨询热线: 4007-367-367 电子邮件:info@keyence.com.cn 就业机会: 基恩士人才招聘网站
Copyright (C) 2021 KEYENCE CORPORATION. All Rights Reserved. 基恩士 (中国) 有限公司
查看相关系列
测量仪 / 测量传感器