薄膜的高度差测量

检测薄膜端面上产生的凹陷等。LJ-X 系列的 1 台控制器可同时用 2 个传感器探头进行检测。还配备了最快可进行 64 kHz 采样的传感器探头，适用于高速生产线。

2D/3D 线激光测量仪

LJ-X8000 系列