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为了确保球囊的强度,必须掌握膨胀状态下的厚度分布。SI-T 系列能够在球囊膨胀状态下测量各部分的厚度。采用非接触测量,可实现目标物不变形的高精度测量。
分光干涉位移型多层膜厚测量仪
SI-T 系列
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