芯片的翘起和重叠

以宽范围、高精度测量为卖点的LJ-X8000系列可在一次检测中检测复数芯片的翘起、重叠状况。能够以高度为标准进行观察，因此可准确、稳定地检测。

2D/3D 线激光测量仪

LJ-X8000 系列

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