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如果使用显微镜进行检测,人为产生的偏差及检测耗时都是难以解决的课题。WI 系列以面为单位进行同时测量,实现非接触、无误差的瞬间测量。
干涉式同轴 3D 位移测量仪
WI-5000 系列
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