晶圆边缘部的形状测量
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行业:
- 半导体/液晶
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产品:
- 测量仪 / 测量传感器
打磨大直径晶圆时,为了降低搬运风险和翘曲发生率,在加工时可能会多留数 mm 的外周部。LJ-X 系列能够瞬间测得上述外周部的宽度、高度差等数据。可以在转动晶圆的同时完成测量,实现全周形状检测。
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产品:
打磨大直径晶圆时,为了降低搬运风险和翘曲发生率,在加工时可能会多留数 mm 的外周部。LJ-X 系列能够瞬间测得上述外周部的宽度、高度差等数据。可以在转动晶圆的同时完成测量,实现全周形状检测。