切割沟槽的深度测量

如果使用显微系统进行离线检测，难以避免人为测量误差。WI-5000 系列作为一款非接触、可追溯的测量设备，可以稳定测量，避免人为误差，提高数据的可靠性。

干涉式同轴 3D 位移测量仪

WI-5000 系列

返回到“按行业、用途选择产品”