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在制造工序测量 LED 灌注树脂的高度。WI 系列可进行面内的同时测量,再利用几乎不会受到目标物材质影响的白光干涉原理,就能瞬间测得树脂的顶点高度。
干涉式同轴 3D 位移测量仪
WI-5000 系列
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