充填密封材料后的高度测量

测量充填后的密封材料高度。WI 系列可进行同轴测量，可不受透明、镜面、粗糙面等目标物材质及表面状态的影响而批量测量高度。

干涉式同轴 3D 位移测量仪

WI-5000 系列

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