保护外壳的厚度测量

测量保护外壳的厚度。CL 系列搭载了光轴调整功能，使上下对射的感测头光轴对齐。通过消除以往的双头对射厚度测量中的课题，即光轴错位，实现了准确的测量。* 与本公司 LK-G5000 系列产品的比较

彩色激光同轴位移计

CL-3000 系列