电子元件寿命试验中的温度测量

为评估部件寿命，需要向电子元件反复施加高温或低温下的热应力后，采集温度分布数据。对各种各样的温度影响进行验证，诸如暴露在高温等严酷环境下反复进行通电试验、检测受热变形或开裂等，或者对树脂 + 金属等不同材料组成的模塑品考察耐久性等。另外，多重输入数据采集系统 NR 系列除用于温度测量以外，通过连接应变测量单元或高速、高电压测量单元，可同时实施不同类型的测量，能够有效地缩短工时。