极片分切前塌边检测

分切前如果极片不平整，会导致分切后极片宽度不一致，影响电芯质量。检测时不易受极片颜色和外界环境光影响；高通滤波器功能支持极片振动时稳定检测。

CMOS激光位移传感器

IL 系列

返回到“按行业、用途选择产品”