隔膜/ 极片卷径检测

隔膜和极片原料薄且价格高，如果传感器精度不够，容易误报，造成材料的浪费。使用激光检测，相对其他原理更稳定，精度高，采样速度快，可准确控制材料余量。

CMOS激光位移传感器

IL 系列

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