光学元件的平行度测量
光学制造
检测光学元件上不正确的轮廓
- 优点
-
测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标
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- LT-9000 系列
表面扫描激光共焦位移计 -
Z 轴扫描: 对音叉运用共焦原理，实现高精度测量。 X 轴扫描: 振荡模块产生巨大的扫描区域。实现更高的测量稳定性。
- LT-9000 系列
- LT-8100/8000 系列 停产
激光共焦位移计 -
革命性的全新位移计具备 0.1μm 的精确度
目录
技术指南
- LT-8100/8000 系列 停产
检测光学元件上不正确的轮廓
测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标
Z 轴扫描: 对音叉运用共焦原理，实现高精度测量。 X 轴扫描: 振荡模块产生巨大的扫描区域。实现更高的测量稳定性。
革命性的全新位移计具备 0.1μm 的精确度
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