中国

薄膜的厚度测量

Thickness measurement of thin film

网片转换

准确地测量透明的薄涂层,无需核装置

优点

核装置每年需要高昂的维护

了解产品的详细信息

  • 业界超快速度64000个轮廓/秒,可以同时测量不同反光强度的材质,高速度,高精度,高稳定性。

  • LJ-G系列可在X及Z方向上精确测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。

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