薄膜的厚度测量
网片转换
准确地测量透明的薄涂层，无需核装置
- 优点
-
核装置每年需要高昂的维护
了解产品的详细信息
- LJ-V7000 系列
超高速轮廓测量仪 -
业界超快速度64000个轮廓/秒，可以同时测量不同反光强度的材质，高速度，高精度，高稳定性。
- LJ-V7000 系列
- LJ-G5000 系列
高精度2D激光位移传感器 -
LJ-G系列可在X及Z方向上精确测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。
- LJ-G5000 系列
准确地测量透明的薄涂层，无需核装置
核装置每年需要高昂的维护
业界超快速度64000个轮廓/秒，可以同时测量不同反光强度的材质，高速度，高精度，高稳定性。
LJ-G系列可在X及Z方向上精确测量物体表面的轮廓。可透过28种测量模式测量表面轮廓上的高度、宽度及间隙。
