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晶圆缺口位置检测

Position detection of wafer notches

视觉系统检测晶圆缺口的旋转位置。

Trend Edge Stain工具具有500万像素分辨率的摄像机和内置的算法,可以稳定地检测缺口,而且还能够输出位置和尺寸数据。

优点

使用200万像素摄像机可以检测缺口的位置,但摄像机的可重复性不稳定。通过使用XG系列系统,可以借助500万像素高速摄像机和新的Trend Edge Stain工具稳定地定位缺口。

了解产品的详细信息

  • XG-8000 系列 - 超高速、高容量全自定义视觉系统

    目前, 图像处理市场不断发展, 各种型号充斥于其间。

  • XG-7000 系列 - 超高速、高容量全自定义视觉系统

    XG 系列可通过控制器直接进行标准编程,也能使用选购的 Vision Editor PC 软件进行高级编程。

  • CV-X 系列 - 高速、大容量智能引导式视觉系统

    支持全球标准的3 个要点 任何人皆可使用 尖端算法。 任何人皆可实现 快速启动、长期运用。 可从丰富的产品阵容中选择最佳产品。

  • CV-5000 系列 - 超高速、多CCD视觉系统

    CV-5000系列具有同类产品中最多的CCD类型,

  • CV-3000 系列 - 多相机通用型

    使用业界最高性能的图像处理引擎,配合多种相机选择,提供了最大的机动性。