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测量传感器的选择

薄膜 / 胶片

可测量透明或不透明的薄或厚的各种工件。 我们还将介绍从涂布到卷绕的每个工序的应用示例。

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SI系列可以通过单头测量透明薄膜厚度,只需执行单轴移动即可实现整个宽度的高精度厚度测量。

微型传感头型分光干涉式 激光位移计

SI-F 系列

透过型测量仪使用高强度绿色LED,不仅可以高精度测量宽度、弯曲,并且可以用于数据追溯。

超高速度、高精度数字测微计

LS-9000 系列

通过测量辊轮的缝隙,可有效管理薄膜的厚度。在轧制时进行该测量,可实现实时控制,并有效提高质量。LS-9000系列可测量最小10μm 的缝隙。

超高速度、高精度数字测微计

LS-9000 系列

可通过非接触方式在线测量厚度。CL-3000 系列具有丰富的传感头种类,可不受颜色、材料、表面状态等影响,稳定测量所有目标物。

彩色激光同轴位移计

CL-3000 系列

以往使用摄像机进行产品的条件设定,希望借此防止产生不良品,但使用 LJ-V 系列后可实现精准“检查”,从而可有效防止不良品流出。

2D/3D 线激光测量仪

LJ-X8000 系列

使用2D激光位移传感器测量侧面形状,可实时检测卷绕不平整的问题。而通过检测卷绕不平整的问题,可有效降低褶皱的产生以及放卷时的弯曲,从而达到削减成本的目的。

2D/3D 线激光测量仪

LJ-X8000 系列

使用二维激光位移计,可以通过两侧感测头测量板面与辊的高度差来同时测量厚度和宽度。

2D/3D 线激光测量仪

LJ-X8000 系列

使用3D位移传感器,可轻松将橡胶传送带表面的细微凹凸定量化。 可实现在线全检。

干涉式同轴 3D 位移测量仪

WI-5000 系列