CMOS封装形状不良

LJ-S8000通过运用3D数据，可稳定检测陶瓷封装翘曲及端子高度异常等仅凭颜色无法辨别的不良。内置扫描机构，只需安装到设备上即可导入。

OK

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全自动扫描3D 视觉系统

LJ-S8000 系列

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